本報(bào)廣州9 月19 日電 從中山大學(xué)獲悉，阿爾法磁譜儀實(shí)驗(yàn)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)AMS）的新成果19日發(fā)表。此項(xiàng)成果是基于A(yíng)MS 在國(guó)際空間站上量測(cè)并分析的410 億件事件而取得的，進(jìn)一步顯示宇宙射線(xiàn)中過(guò)量的正電子可能來(lái)自暗物質(zhì)。

AMS計(jì)劃的主持人是諾貝爾獎(jiǎng)得主、美籍華人物理學(xué)家丁肇中。2011年升空的AMS由國(guó)際空間站搭載，任務(wù)是尋找暗物質(zhì)并探尋其起源。根據(jù)現(xiàn)有理論，宇宙中的暗物質(zhì)遠(yuǎn)遠(yuǎn)多于普通物質(zhì)，暗物質(zhì)碰撞會(huì)產(chǎn)生過(guò)量的正電子，阿爾法磁譜儀可對(duì)宇宙射線(xiàn)中的正電子進(jìn)行精密觀(guān)測(cè)。此次AMS測(cè)得的正電子分率（即正電子占電子與正電子總和的比例）在精度上有所提升，觀(guān)察到的410億個(gè)宇宙射線(xiàn)事件中，約有1000萬(wàn)個(gè)是電子或正電子。研究人員說(shuō)，觀(guān)測(cè)到的正電子分布特征與暗物質(zhì)理論的某個(gè)模型一致，該模型認(rèn)為暗物質(zhì)由一種稱(chēng)為“中輕微子”的粒子組成。不過(guò)，這些過(guò)量的正電子到底是來(lái)源于暗物質(zhì)，還是來(lái)源于脈沖星等天文現(xiàn)象，還需要進(jìn)一步分析確認(rèn)。另外，宇宙射線(xiàn)中電子與正電子的通量（即單位時(shí)間里通過(guò)單位面積的粒子數(shù)量）分布顯著不同，其特征也顯示，過(guò)量的高能正電子有可能來(lái)自于暗物質(zhì)碰撞。

據(jù)悉，中山大學(xué)參與了AMS 并負(fù)責(zé)AMS硅微條軌跡探測(cè)器熱控系統(tǒng)的建造。

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